架空線路和站用瓷絕緣子的試驗(yàn)項(xiàng)目、周期和要求

試驗(yàn)項(xiàng)目

低（零）值絕緣子檢測(cè)

試驗(yàn)周期

1） 投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；

2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；

3）必要時(shí)。

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

1）盤形懸式瓷絕緣子和10kV?35kV針式瓷絕緣子所測(cè)的絕緣電阻小于500MQ為低（零）值絕緣子；

2）所測(cè)低（零）值絕緣子年均劣化率大于0.02%時(shí)，應(yīng)分析原因，并逐只進(jìn)行干工頻耐受電壓試驗(yàn)。

試驗(yàn)方法及說(shuō)明

1）項(xiàng)1應(yīng)采用不小于5000V 的兆歐表；

2）項(xiàng)目2、項(xiàng)目3依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)DL/T626；

3）測(cè)量電壓分布（或火花間隙）依據(jù)《帶電作業(yè)用火花間隙檢測(cè)裝置》DL/T415；

4）對(duì)于投運(yùn)3年內(nèi)年均劣化率大于0.04%, 2年后檢測(cè)周期內(nèi)年均劣化率大于0.02% ,或年劣化率大于0.1%的絕緣子，或機(jī)械性能明顯下降的絕緣子，應(yīng)分析原因，并采取相應(yīng)措施。

試驗(yàn)項(xiàng)目

干工頻耐受電壓試驗(yàn)

試驗(yàn)周期

1）投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；

2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；

3）必要時(shí)。

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

1）盤形懸式瓷絕緣子應(yīng)施加60kV；

2）對(duì)大盤徑防污型絕緣子，施加對(duì)應(yīng)普通型絕緣子干工頻閃絡(luò)電壓值；

3）對(duì)10kV、35kV針式瓷絕緣子交流耐壓試驗(yàn)電壓值分別為42kV及100kV。

試驗(yàn)項(xiàng)目

測(cè)量電壓分布（或火花間隙）

試驗(yàn)周期

1） 投運(yùn)后3年內(nèi)應(yīng)普測(cè)1次；

2）按年均劣化率調(diào)整檢測(cè)周期，當(dāng)年均劣化率＜0.005%,檢測(cè)周期為5?6年；當(dāng)年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測(cè)周期為4~5年；當(dāng)年均劣化率＞0.01%,檢測(cè)周期為3年；

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

1） 被測(cè)絕緣子電壓值低于50%標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，判為劣化絕緣子；

2） 被測(cè)絕緣子電壓值高于50%的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定值，同時(shí)明顯低于相鄰兩側(cè)合格絕緣子的電壓值，判為劣化絕緣子；

3）在規(guī)定火花間隙距離和放電電壓下未放電，判為劣化絕緣子。

試驗(yàn)項(xiàng)目

外觀檢查

試驗(yàn)周期

必要時(shí)

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

瓷件出現(xiàn)裂紋、破損，釉面缺損或灼傷嚴(yán)重，水泥膠合劑嚴(yán)重脫落，鐵帽、鋼腳嚴(yán)重銹蝕等判為劣化絕緣子。

試驗(yàn)項(xiàng)目

機(jī)電破壞負(fù)荷試驗(yàn)

試驗(yàn)周期

必要時(shí)

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

當(dāng)機(jī)電破壞負(fù)荷低于85%額定機(jī)械負(fù)荷時(shí)，則判該只絕緣子為劣化絕緣子

試驗(yàn)項(xiàng)目

絕緣子現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS）測(cè)量

試驗(yàn)周期

1）連續(xù)積污3年?6年

2）必要時(shí)

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

進(jìn)行等值附鹽密度（ESDD）及不溶沉積物密度（NSDD）測(cè)量，得出現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS），為連續(xù)積污3?5年后開始測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)污穢度所測(cè)到的ESDD或NSDD最大值。必要時(shí)可延長(zhǎng)積污時(shí)間。
試驗(yàn)方法及說(shuō)明

1 ）測(cè)量方法按GB/T26218.1；

2）現(xiàn)場(chǎng)污穢度（SPS）等級(jí)的劃分參照附錄G

試驗(yàn)項(xiàng)目

72.5kV及以上支柱瓷絕緣子超聲波探傷檢查

試驗(yàn)周期

1）必要時(shí)

試驗(yàn)結(jié)果判斷依據(jù)

無(wú)裂紋和缺陷。

試驗(yàn)方法及說(shuō)明

1）對(duì)多元件組合的整柱絕緣子，應(yīng)對(duì)每元件進(jìn)行檢測(cè)；

2）測(cè)試方法可參考DL/T303。